cpk计算

Cpk是Process Capability Index全称，表示制程能力指数；CPK的计算公式：Cpk=Cp(1-|Ca|)其中：Ca ：制程准确度Cp :制程精密度Cpk的意义：制程水平的量化反映

CPK的计算公式：Cpk=Cp(1-|Ca|)Ca (Capability of Accuracy)：制程准确度。Cp(CapabilityofPrecision):制程精密度。注意: 计算Cpk时，取样数据至少应有20组数据，而且数据要具有一定代表性。 Cpk的意义：制程水平的量化反映;（用一个数值来表达制程的水平） 制程能力指数：是一种表示制程水平高低的方便方法，其实质作用是反映制程合格率的高低。

过程能力指数（Process capability index）表示过程能力满足技术标准（例如规格、公差）的程度，一般记为CPK。计算公式：CPK= Min[ (USL- Mu)/3σ，（Mu - LSL)/3σ］。1、双侧规格双侧规格情形的过程能力指数，这时，过程能力指数CP的计算公式如下：式中，T为过程统计量的技术规格的公差幅度；TU、TL分别为上、下公差界限；σ为过程统计量的总体标准差，可以在过程处于稳态时得到。2、有偏移情形有偏移情形的过程能力指数：当过程统计量的分布均值μ与公差中心M不重合（即有偏移）时，如图1所示，显然不合格率（如图1上的PU）增大，也即CP值降低，故式（1）所计算的过程能力指数不能反映有偏移的实际情形，需要加以修正。定义分布的总体均值μ与公差中心M的偏移为ε=|M-μ|，μ与M的偏移度为K：这样，当μ=M（即分布中心与公差中心重合，无偏移）时，K=0，则CPK=CP；而当μ=TU或μ=TL时，K=1，CPK=0，表示过程能力由于偏移而严重不足，需要采取措施加以纠正。显然，具有：CPK≤CP。3、单侧规格单侧规格情形的过程能力指数：若只有规格上限的要求，而对规格下限无要求，则过程能力指数计算如下：式中，CPU为上单侧过程能力指数。若μ≥TU，令CPU=0，表示过程能力严重不足，过程的不合格品率高达50%以上。

计算公式：CPK= Min[ (USL- Mu)/3σ，（Mu - LSL)/3σ］过程能力指数（Process capability index）表示过程能力满足技术标准（例如规格、公差）的程度，一般记为CPK。cpk计算公式应用：1、当选择制程站别Cpk来作管控时，应以成本做考量的首要因素，还有是其品质特性对后制程的影响度。2、计算取样数据至少应有20~25组数据，方具有一定代表性。3、计算Cpk除收集取样数据外，还应知晓该品质特性的规格上下限(USL，LSL)，才可顺利计算其值。4、首先可用Excel的“STDEV”函数自动计算所取样数据的标准差(σ)，再计算出规格公差(T)，及规格中心值(u). 规格公差=规格上限－规格下限；规格中心值=（规格上限+规格下限）/2。5、依据公式：Ca=(X-U)/(T/2) ， 计算出制程准确度：Ca值 (x为所有取样数据的平均值)。6、依据公式：Cp =T/6σ ， 计算出制程精密度：Cp值。7、依据公式：Cpk=Cp(1-|Ca|) ， 计算出制程能力指数：Cpk值。

单边上限时的CPK：CPK=(USL-X)/3σ单边下限时的CPK：CPK=(X-LSL)/3σ双边规格的时候，取其中的小值

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